文|利荣新智驾按：本文由新智驾编译自semiengineering，原文标题为FindingFaultyAutoChips。由于本文涉及诸多技术细节与专业术语，有不妥之处敬请专业读者指摘。汽车芯片检测技术发展迅速作为辅助驾驶和自动驾驶的关键···